在磁粉探伤时，缺陷处所产生的漏磁通的大小与通过工件的（）有关，与缺陷的（）和（）有关

题库:无损检测技术资格人员考试 类型:填空题 时间:2017-06-24 06:31:17 免费下载:《磁粉检测》Word试卷

在磁粉探伤时，缺陷处所产生的漏磁通的大小与通过工件的（）有关，与缺陷的（）和（）有关

本题关键词:缺陷处理,缺陷通知期,Hf缺陷,ADA缺陷,DAF缺陷,If缺陷,CR1缺陷,Iff缺陷,C3缺陷,酶缺陷;