在磁粉探伤时，缺陷处所产生的漏磁通的大小与缺陷的几何形状和方向无关

题库:无损检测技术资格人员考试 类型:判断题 时间:2017-06-24 06:31:10 免费下载:《中级无损检测技术资格人员》Word试卷

在磁粉探伤时，缺陷处所产生的漏磁通的大小与缺陷的几何形状和方向无关

本题关键词:缺陷处理,缺陷处理方法,Hf缺陷,ADA缺陷,DAF缺陷,If缺陷,CR1缺陷,Iff缺陷,C3缺陷,酶缺陷;