在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴 影的移动，相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度，这种方法称之为深度定位 视差法

题库:无损检测技术资格人员考试 类型:判断题 时间:2021-05-15 11:18:00 免费下载:《高级无损检测技术-射线检测试题七》Word试卷

在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴 影的移动，相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度，这种方法称之为深度定位 视差法

本题关键词:合同缺陷,不可整改质量缺陷,设计缺陷,缺陷安全评定,Hf缺陷,ADA缺陷,DAF缺陷,If缺陷,CR1缺陷,Iff缺陷;