高级无损检测技术-射线检测试题七

• 1、

  进行γ射线探伤作业时，必须考虑γ射线探伤机和被检物体的距离、照射方向、时间和 屏蔽条件，以保证作业人

• 2、

  常见的金属增感屏按金属箔材料的不同分为如下几类:铅屏;钢屏;铜屏;钽屏;钨屏

• 3、

  金属增感屏是由金属箔与衬纸紧密胶粘制成的

• 4、

  金属增感屏衬纸的材料可以是纸质的、塑料的或其他适宜的非金属材料

• 5、

  金属增感屏(金属箔或衬纸)的表面应光滑清洁和平整

• 6、

  金属箔的表面不应有肉眼可辨的孔洞、划痕、擦伤、皱纹、油污、氧化等

• 7、

  金属增感屏的表面质量可用肉眼在白光下进行检查

• 8、

  晶粒较粗大的材料，在一定的射线透照条件下，射线底片上可能产生衍射斑纹

• 9、

  用偏心内透照法100%检验容器的环焊缝，当焦距大于容器外半径时，为了防止漏检, 应将搭接标记放在胶片

• 10、

  环焊缝中横向缺陷的检出率，在焦距相同的情况下，内照法优于外照法

• 11、

  一般来说， 曝光量只有选择在胶片特性曲线的直线部分才易于发现缺陷

• 12、

  透照容器环焊缝时选择焦距的原则是:采用内透照法应优先考虑厚度比K和失真角0; 采用外透照法应优先考虑

• 13、

  要在一张底片上显示出母材不等厚的焊缝影像，必须采用低电压和荧光增感

• 14、

  为了获得高衬度和高清晰度的射线图像，在选择X射线机时，焦点的有效面积应尽可 能大

• 15、

  当设计低压X射线管时，为了考虑到滤波、效率、散热等因素，X射线管的窗口一般 采用铜合金制成

• 16、

  采用中子照相法时，其曝光需要先经过转换屏转换，然后再使用X射线胶片曝光

• 17、

  采用中子照相法时，其曝光方法是利用荧光增感屏+X射线胶片曝光

• 18、

  一般采用钴60照射钢材时，适用的检查厚度范围在270毫米以内或其当量厚度

• 19、

  钴60的半衰期为5.3年，如该放射源已存放三年，则透照时的曝光时间应增加约70%

• 20、

  铱192的半衰期为75天,若目前检验工件的最佳曝光时间为20分钟,则经过150天后， 在相同的摄影条

• 21、

  假定管电压和曝光时间一定，在焦距500毫米和管电流5亳安的情况下可得到曝光适宜 的底片,若把焦距增加

• 22、

  已知铱192源的放射性强度为10 居里，在焦距400毫米时可得到正确的曝光量，若其 他条件不变，把焦

• 23、

  对于管电压和管电流都不变的某一曝光量， 当焦距从1200毫米减少到800毫米时，其 曝光时间将从原来

• 24、

  已知铱192源在距离1 米时的曝光时间为60分钟，如果把曝光时间缩短为15分钟，则 需要将距离缩短到

• 25、

  在胶片特性曲线上连接给定两点密度的直线的斜率称为曝光范围

• 26、

  根据胶片特性曲线_上的斜率可以判别胶片的密度

• 27、

  通过增大焦距，可以起到降低底片衬度的作用

• 28、

  利用仪表测量法可以测定X射线管的焦点

• 29、

  用铅箔做增感屏时，若X射线管电压太高，会产生磷光现象

• 30、

  若仅从高清晰度的需要出发，焦距应尽可能长

• 31、

  在X射线管窗口处加装滤光板可以使X射线强度均匀化

• 32、

  铅的密度是11.4, 钢的密度是7.8，铅的密度约是钢的1.5倍，用220KV的X射线进行 照相时，

• 33、

  使用铅或铅化锑高原子序数增感屏的目的是为了降低摄片的条件和降低对底片的要求

• 34、

  关于底片清晰度，它与焦点大小和物体至胶片的距离成反比

• 35、

  粒度大的X射线胶片其照相的清晰度比粒度小的胶片差

• 36、

  强度一定的两种同位素源，若其放射性比活度值不同，则对放射性比活度值较高的源来 说，其半衰期比放射性比

• 37、

  提高荧光屏观察法(即时射线成像)灵敏度的主要困难是成本高和速度慢

• 38、

  表达式: (亳安x时间) /距离平方，称之为照相的对比度

• 39、

  表达式: (毫安x时间) /距离平方，称之为互易定律

• 40、

  在X射线管和胶片距离一半处放置一块用高密度材料制成并钻有小孔的板，这是用来 测量软化X射线的能量

• 41、

  在试样周围放置铅板的目的是产生较短波长的x射线辐射

• 42、

  X射线照相时使用的电压值高或低，其衬度不变

• 43、

  .胶片的增感因子在40-400KV之间的变化情况是随着电压增大，增感因子增大

• 44、

  胶片的增感因子在40-400KV之间的变化情况是随着电压增大，增感因子变小

• 45、

  如果荧光增感屏的种类一定，则感光速度主要取决于荧光物质的颗粒度，颗粒越大，感 光速度越慢

• 46、

  在胶片背面放一个“B"铅字，曝光后冲洗出来的底片上出现该铅字的影像，说明对背散 射的防护适当

• 47、

  工件内部如有一面积型缺陷，当该缺陷面与射线投照方向成90°夹角时，在底片上的影 像最清晰

• 48、

  220KV的X射线对钢和铜进行射线照相，两者的厚度当量系数为 1:1.4, 若以12mm的 铜板进行

• 49、

  当用观片灯观察底片时，为了获得更直观的效果，在曝光时采用不同方向摄取两张底片 的特殊照相方法，称之为

• 50、

  在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴 影的移动，相对于试样固定

• 51、

  在同一张底片 上，做两个不同位置的x射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴 影的移动，相对于试样固

• 52、

  在同一张底片 上，做两个不同位置的x射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴 影的移动，相对于试样固

• 53、

  定影液使用一段时间后，由于定影液中可溶解的银盐浓度增加，导致定影效果下降

• 54、

  定影液使用一段时间后，由于定影液成分被挥发，导致定影效果下降

• 55、

  荧光增感屏经常受到强光照射或紫外线照射后，会导致颜色改变和丧失一些光泽

• 56、

  荧光增感屏因为经常受到强光照射或紫外线照射导致颜色改变和丧失一些光泽时，可以 用弱射线照射使其恢复原

• 57、

  在制作胶片特性曲线时，如果增加显影时间，会使胶片特性曲线变得更陡，并且向左移 动

• 58、

  在制作胶片特性曲线时，如果增加显影时间，会使胶片特性曲线变得更陡，并且向右移 动

• 59、

  采用高KV值X射线照相法的特点是能获得较高的对比度

• 60、

  采用高KV值x射线照相法的特点是适用于厚试样或吸收系数大的试样的照相

• 61、

  当采用高KV值x射线照相法时，几乎所有的曝光均需要使用铅箔增感屏

• 62、

  当采用荧光屏观察法时，几乎所有的曝光均需要使用铅箔增感屏

• 63、

  一般用于荧光屏观察法的观察窗口是用硼硅酸玻璃制成的

• 64、

  一般用于荧光屏观察法的观察窗口是用光学玻璃制成的

• 65、

  当其他操作条件保持不变，管电流的变化会引起X射线管发生的射线强度的变化，但 是其强度的变化只是大致与

• 66、

  当其他操作条件保持不变，管电流的变化会引起X射线管发生的射线强度的变化，但 是其强度的变化只是大致与

• 67、

  当其他操作条件保持不变，管电流的变化会引起X射线管发生的射线强度的变化，但 是其强度的变化只是大致与

• 68、

  当其他操作条件保持不变，管电流的变化会引起X射线管发生的射线强度的变化，但 是其强度的变化只是大致与

• 69、

  观察底片时要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上,因为它很可能是因为底 片高度曝光的原因造成的

• 70、

  观察底片时要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上,因为它很可能是因为X 射线强度太高的原因造成

• 71、

  由于X射线在粗晶材料中可能发生衍射效应，因此散射的特殊表现形式是底片的衬度 差

• 72、

  由于X射线在粗晶材料中可能发生衍射效应，因此散射的特殊表现形式是底片上出现 斑点

• 73、

  拍摄具有厚薄差异的试件时，为了同时得到不同厚薄处具有相同黑度的底片，一般可采 用荧光增感屏法

• 74、

  拍摄具有厚薄差异的试件时，为了同时得到不同厚薄处具有相同黑度的底片，一般可采 用在暗盒内同时装两张相

• 75、

  拍摄具有厚薄差异的试件时，为了同时得到不同厚薄处具有相同黑度的底片，一般可采 用在暗盒内同时装两张具

• 76、

  如果放射源的尺寸较大,为了获得质量较高的底片,可以考虑增大射源至胶片的距离

• 77、

  如果放射源的尺寸较大,为了获得质量较高的底片,可以考虑采用感光速度快的胶片

• 78、

  射线照相时，底片边缘未经直接曝光而出现黑度较高的区域,这是由于试件几何形状不 规则引起的

• 79、

  射线照相时,底片边缘未经直接曝光而出现黑度较高的区域,这是由于铅屏蔽引起的

• 80、

  装在暗盒内而未经曝光的胶片边缘呈有淡黑色的原因是胶片本身质量有问题

• 81、

  装在暗盒内而未经曝光的胶片边缘呈有淡黑色的原因是受到宇宙射线曝光

• 82、

  底片上产生树枝状影像的原因是显影液搅拌不均匀

• 83、

  底片上产生树枝状影像的原因是装拆胶片时摩擦产生静电火花放电

• 84、

  使用透度计的目的是要知道X射线和Y射线的穿透特性的好坏

• 85、

  使用透度计的目的是要知道所透照的底片质量好坏

• 86、

  线状透度计和孔型透度计相比较，线状透度计难以看得清

• 87、

  线状透度计和孔型透度计相比较，孔型透度计容易看得清

• 88、

  工业射线检测使用的胶片与一般胶片之间最大的差别是双面涂乳剂

• 89、

  工业射线检测使用的胶片与一般胶片之间最大的差别是单面涂乳剂

• 90、

  胶片经曝光后产生的潜影能够被肉眼观察到

• 91、

  胶片经曝光后产生的潜影在红灯下能够被肉眼观察到

• 92、

  确定胶片密度和胶片速度的方法是利用特性曲线进行比较

• 93、

  确定胶片密度和胶片速度的方法是通过与一张已知速度的胶片进行比较

• 94、

  未经射线曝光的胶片经暗室处理后，发现底片上存在模糊的淡黑色,这称之为胶片的本 底化学灰雾度

• 95、

  钢板厚度15 毫米，双面焊冠之和为5毫米的焊接件，在底片上能发现最小直径为0.4 毫米的钢丝透度计，

• 96、

  在进行焊缝射线照相时，线型透度计一般是放置在钢板上面

• 97、

  在进行焊缝射线照相时，线型透度计一般是放置在焊缝上面

• 98、

  对大晶粒金属零件进行射线照相时，为了减轻衍射斑点的影响，可以提高管电压并使用 荧光增感屏

• 99、

  对大晶粒金属零件进行射线照相时，为了减轻衍射斑点的影响，可以降低管电压并使用 铅箔增感屏

• 100、

  对大晶粒金属零件进行射线照相时，为了减轻衍射斑点的影响，可以提高管电压并使用 铅箔增感屏