CSK-IB 试块将 IIW 试块的Φ 50 孔改为Φ 40、Φ 44、Φ 50 台阶孔, 其目的是方便用于( )

题库:无损检测技术资格人员考试 类型:最佳选择题 时间:2021-05-10 14:52:15 免费下载:《无损检测超声波二级考试试题一》Word试卷

CSK-IB 试块将 IIW 试块的Φ 50 孔改为Φ 40、Φ 44、Φ 50 台阶孔, 其目的是方便用于( )
A.测定斜探头折射角的正切(K 值);
B.测定直探头盲区范围;
C.测定横波斜探头的分辨力;
D.以上全是

CSK-IB 试块将 IIW 试块的Φ 50 孔改为Φ 40、Φ 44、Φ 50 台阶孔, 其目的是方便用于( )

本题关键词:phi(φ)小体染色,地勘钻孔测定法,总压测孔,块体塌方,冲孔孔径,终孔孔径,气孔不定式,爱宝50片,弹性定位垫块,行为改变阶段;

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