CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔,其目的是()
题库:无损检测技术资格人员考试
类型:最佳选择题
时间:2017-06-24 06:31:29
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CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔,其目的是()
A.测定斜探头K值
B.测定直探头盲区范围
C.测定斜探头分辨力
D.以上全是
本题关键词:缆式定温探测器,地勘钻孔测定法,探测器,测定值,斜孔,探测面积,火灾探测,时值测定,经鼻盲探,总压测孔;