用串联式探头进行操作扫查，主要用来检测（）的缺陷。

A:平行于探测面 B:与探测面倾斜 C:垂直于探测面

垂直法探伤所定的缺陷深度，也就是缺陷至探测面的垂直距离。

探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是（）。

A:聚焦探头 B:直探头 C:斜探头 D:串列双斜探头

探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是（）。

A:聚焦探头 B:直探头 C:斜探头 D:串列斜探头

直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面．主要用于探测与探测面（）的缺陷。

直探头只能发射和接收纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于发现与探测面（）的缺陷。

A:平行 B:垂直 C:倾斜 D:呈90°

直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。

焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）

A:平行于探测面的缺陷 B:与探测面倾斜的缺陷 C:垂直于探测面的缺陷 D:不能用斜探头检测的缺陷

串列法探伤适用于检查垂直于探测面的平面缺陷。

探测厚焊缝中垂直于表面的缺陷最适用的方法是:(　)

A:聚焦探头 B:直探头 C:斜探头 D:串列双斜探头。