斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行，但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为面积小于声束截面的当量反而（）。

探测面与工件底面不平行时（）。

A:导致荧光屏图象中失去底面回波 B:难以对平行于入射面的缺陷进行定位 C:通常表示在金属中存在疏松状态 D:减小试验的穿透力

直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。

磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。

锻钢件大平底面与探测面不平行时，会产生：（）

A:无底面回波或底面回波降低 B:难以发现平行探测面的缺陷 C:声波穿透能力下降 D:缺陷回波受底面回波影响

焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）

A:平行于探测面的缺陷 B:与探测面倾斜的缺陷 C:垂直于探测面的缺陷 D:不能用斜探头检测的缺陷

方形锻件垂直法探伤时， 荧光屏上出现一个缺陷回波， 其波幅较低， 但底波降低很 大。 该缺陷取向可能是( )。

A:平行且靠近探测面 B:与声速方向平行 C:与探测面成较大角度 D:平行且靠近底面

斜探头探测两个表面光滑平整， 相互平行， 但与入射声束取向不良的缺陷。 其当量 为面积小于声束截面的当量反而大。

锻钢件大平底面与探测面不平行时， 会产生： (　)

A:无底面回波或底面回波降低 B:难以发现平行探测面的缺陷 C:声波穿透能力下降 D:缺陷回波受底面回波影响

探测面与工件底面不平行时:(　)

A:导致荧光屏图象中失去底面回波 B:难以对平行于入射面的缺陷进行定位 C:通常表示在金属中存在疏松状态 D:减小试验的穿透力。