狭缝曝光采集技术（）。

A:窄束X线束接__行，投影失真率小，图像拼接后更加真实 B:窄束X线束接近垂直，投影失真率小，图像拼接后更加真实 C:窄束X线束通过多次摄影，完成检查 D:窄束X线束通过一次曝光完成检查 E:窄束X线束通过后处理软件完成检查

铜导线的直径（）卡接片的狭缝。

A:略小于 B:等于 C:略大于 D:略小于或等于

在分光光度法中，光栅单色器的作用是单狭缝（），和多狭缝干涉的综合结果。

狭缝或光谱通带越窄，信噪比越（）。

A:大 B:小 C:不变

当狭缝技术与线性时基方法一起使用时（）.

A:相位移将使阴极射线管上的波形向左或向右移动； B:校准后，如果出现缺陷，阴极射线管上的波形向上或向下移动； C:设备经调整後，磁导率和电导率变化时，狭缝值变化很小或无变化； D:当电导率影响在水平线上显示时，尺寸影响将不在狭缝上显示

右图是质谱仪的工作原理示意图．带电粒子被加速电场加速后，进入速度选择器．速度选择器内相互正交的匀强磁场和匀强电场的强度分别为B和E．平板S上有可让粒子通过的狭缝P和记录粒子位置的胶片A1A2．平板S下方有强度为B0的匀强磁场．下列表述正确的是（）．

A:质谱仪是分析同位素的重要工具 B:速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外 C:能通过狭缝P的带电粒子的速度等于E/B D:粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P，粒子的荷质比越小

右图是质谱仪的工作原理示意图．带电粒子被加速电场加速后，进入速度选择器．速度选择器内相互正交的匀强磁场和匀强电场的强度分别为B和E．平板S上有可让粒子通过的狭缝P和记录粒子位置的胶片A1A2．平板S下方有强度为B0的匀强磁场．下列表述正确的是（）．

A:质谱仪是分析同位素的重要工具 B:速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外 C:能通过狭缝P的带电粒子的速度等于E/B D:粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P，粒子的荷质比越小

右图是质谱仪的工作原理示意图．带电粒子被加速电场加速后，进入速度选择器．速度选择器内相互正交的匀强磁场和匀强电场的强度分别为B和E．平板S上有可让粒子通过的狭缝P和记录粒子位置的胶片A1A2．平板S下方有强度为B0的匀强磁场．下列表述正确的是（）．

A:质谱仪是分析同位素的重要工具 B:速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外 C:能通过狭缝P的带电粒子的速度等于E/B D:粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P，粒子的荷质比越小