核探测技术与核电子学

• 1、

  核辐射探测的主要内容有哪些？

• 2、

  辐射探测器

• 3、

  常见的核辐射探测器按工作原理可分成哪几类？

• 4、

  闪烁计数器由哪几个部分组成？

• 5、

  核辐射探测器输出的脉冲，其哪些参量与射线强弱、能量大小有着什么样的定性关系？

• 6、

  按不同的分类标准，闪烁体分为哪几类？

• 7、

  对用作核辐射探测器的闪烁体有哪些要求？

• 8、

  对于分辨率分别为8%和13%的NaI（Tl）晶体，哪个晶体的能量分辨能力高？

• 9、

  用好的NaI（Tl）晶体和光电倍增管，能量分辨率可达多大？

• 10、

  量分辨能力与射线能量有何关系？

• 11、

  探测效率

• 12、

  常用的闪烁体有哪些？

• 13、

  为什么NaI（Tl）探测器具有很高的探测效率？

• 14、

  与NaI（Tl）探测效率有关的因素有哪些？

• 15、

  使用NaI闪烁体有哪些注意事项？

• 16、

  NaI(Tl)中含有少量的铊，铊起什么作用？使用时要注意什么？

• 17、

  当NaI（Tl）晶体用来探测低能量X射线时，对晶体的封装有何要求？为什么？

• 18、

  ZnS（Ag）闪烁体有哪些优缺点？

• 19、

  CsI（Tl）闪烁体有哪些优缺点？

• 20、

  简述对液体闪烁体的了解？

• 21、

  简述光电倍增管及微通道板的作用。二者有何特点、区别？

• 22、

  简述光电倍增管的工作原理。

• 23、

  闪烁计数器由哪几部分组成？

• 24、

  在闪烁计数器中，什么是光导？当光电倍增管与闪烁体不能直接接触时，怎么办？

• 25、

  测量α射线采样哪种闪烁体？需要注意什么？

• 26、

  测量β射线采样哪种闪烁体？需要注意什么？

• 27、

  测量γ射线采样哪种闪烁体？

• 28、

  光电倍增管各倍增极上的电压可以通过分压电阻得到，对分压电阻有何要求？为什么？

• 29、

  影响闪烁计数器稳定性的主要因素有哪些？

• 30、

  何为闪烁计数器的“坪”曲线？

• 31、

  为什么要利用闪烁计数器的“坪”曲线？

• 32、

  使用闪烁计数器有哪些注意事项？

• 33、

  气体探测器有哪几种？

• 34、

  电离室有哪两种类型？分别解释之。

• 35、

  在电离室中，造成谱线展宽最基本的因素是什么？能量分辨力由什么决定？

• 36、

  气体放大现象

• 37、

  与电离室相比，正比计数器有哪些优点？

• 38、

  正比计数器可根据不同的探测对象充气，如探测热中子、探测快中子、探测X射线分别充什么气体？

• 39、

  G-M计数器探测射线具有哪些优、缺点？

• 40、

  使用G-M计数管有哪些注意事项？

• 41、

  半导体探测器与气体电离室有何主要区别？

• 42、

  列举几种半导体探测器。

• 43、

  半导体探测器有哪些优、缺点？

• 44、

  电离室能成为一个探测器应满足哪几个条件？

• 45、

  影响金硅面垒探测器能量分辨力的主要因素有哪些？

• 46、

  解释半导体探测器的能量线性。

• 47、

  解释半导体探测器的辐射损伤效应。

• 48、

  解释PIN探测器及名称由来。

• 49、

  在野外使用的便携式谱仪中，可以采用Ge（Li）探测器吗？为什么？

• 50、

  影响锂漂移型探测器能量分辨的主要因素有哪些？

• 51、

  影响高纯锗探测器能量分辨率的主要因素有哪些？

• 52、

  化合物半导体材料的哪些特性，使之适合于做半导体探测器？

• 53、

  全耗尽探测器主要有哪些优点？

• 54、

  全耗尽探测器主要有哪些方面的用途？

• 55、

  解释内放大探测器名称由来及工作原理。

• 56、

  核电子学（nuclear electronics）

• 57、

  按照测量辐射信息参量的不同，（核）辐射测量仪器可分为？它们的差别主要在于？

• 58、

  测量仪器的电子学电路主要由哪些部分组成？简单的工作过程是？

• 59、

  使仪器正常工作，还要有哪些辅助电路？

• 60、

  减小探测器与放大器连接处存在的分布电容，一个主要措施是？

• 61、

  为什么将放大器分为前置放大器和主放大器。

• 62、

  为什么要主放大器或谱仪放大器？

• 63、

  前置放大器的分类？

• 64、

  电荷灵敏前置放大器？

• 65、

  采用主放大器进一步放大的必要性？

• 66、

  什么是主放大器？

• 67、

  主放大器在系统中的相对位置？

• 68、

  放大器的输出信号要适应后续测量设备的要求，必须解决哪两个问题？

• 69、

  在谱仪放大器中，为什么一开始就采用滤波成形电路呢？

• 70、

  提高放大器线性的措施。

• 71、

  放大器的幅度过载概念与克服幅度过载的主要方法有？

• 72、

  基线漂移的产生原因与危害？

• 73、

  解决基线漂移问题的途径与实现？

• 74、

  脉冲信息的处理方式？

• 75、

  脉冲幅度甄别器基本原理？

• 76、

  稳谱装置的基本原理？

• 77、

  多个单道叠加组成的多道分析器？

• 78、

  基于模数变换方法和存储器技术的多道分析器基本原理。

• 79、

  在进行核能谱测量，道宽取多大合适？

• 80、

  为什么要峰值保持？

• 81、

  为什么要解决谱线漂移？

• 82、

  产生谱漂的原因是什么？

• 83、

  解决谱漂的方法有哪些？

• 84、

  α射线与物质相互作用的主要形式是（）和激发。

• 85、

  β＋衰变的实质是母核中的一个（）转变为中子。

• 86、

  简述NaI（Tl）探测器的特征X射线逃逸以及对谱线的影响。

• 87、

  随着入射γ射线能量的变化，γ射线与物质相互作用的主要效应所占比例如何变化？

• 88、

  简述半导体探测器的工作原理。

• 89、

  什么是“谱平衡”？

• 90、

  通用闪烁体探头的组成部件有那些？为什么要进行避光处理？

• 91、

  电子吸附效应

• 92、

  轫致辐射

• 93、

  截面

• 94、

  真符合计数

• 95、

  偶然符合计数

• 96、

  碘逃逸峰

• 97、

  本征效率

• 98、

  辐射损失率

• 99、

  电离损失率

• 100、

  时间分辨

• 101、

  渡越时间

• 102、

  分辨时间

• 103、

  恢复时间

• 104、

  死时间

• 105、

  激发

• 106、

  电离

• 107、

  湮灭辐射峰

• 108、

  源效率

• 109、

  峰康比

• 110、

  峰总比

• 111、

  总效率

• 112、

  特征峰

• 113、

  逃逸峰

• 114、

  全能峰

• 115、

  能谱

• 116、

  α粒子与物质相互作用的形式主要有以下两种（）、电离和激发。

• 117、

  γ射线与物质相互作用的主要形式有以下三种（）；（）、电子对效应。

• 118、

  β射线与物质相互作用的主要形式有以下四种：激发与电离、（）；（）、正电子淹灭。

• 119、

  G-M计数管一般用来探测α、β、带电粒子射线的（）。

• 120、

  正比计数管一般用来探测α、β、γ、X、带电粒子、重带电粒子射线的（）；（）、能量和强度。

• 121、

  电离室一般用来探测带电粒子射线的（）和强度。

• 122、

  由NaI（Tl）组成的闪烁计数器，一般用来探测（）的能量和强度。

• 123、

  由ZnS（Ag）组成的闪烁计数器，一般用来探测（）的能量和强度。

• 124、

  电离室、正比计数管、G-M计数管输出的脉冲信号幅度与（）成正比。

• 125、

  由NaI（Tl）组成的闪烁计数器，分辨时间约为：零点几、几、十几、几十、（）μs；G-M计数管的分辨

• 126、

  G-M计数管的输出脉冲幅度与（）的种类无关。

• 127、

  金硅面垒型半导体探测器一般用来探测（）的能量和强度。

• 128、

  Si（Li）半导体探测器一般用来（）的能量和强度。

• 129、

  （）探测器一般用来探测γ射线的能量和强度。

• 130、

  对高能γ射线的探测效率则主要取决于（）。

• 131、

  对低能γ射线的探测效率则主要取决于探测器材料的（）。

• 132、

  带电粒子的能量损失率又叫物质的（）。

• 133、

  （）是指计数管一次计数后恢复到再次计数的时间间隔。

• 134、

  电离室按工作方式可分为（）和累积电离室。

• 135、

  典型的气体探测器有（）；（）、G—M计数管。

• 136、

  测量α射线一般选用（）。

• 137、

  放射性活度的测量方法一般有（）和相对测量法。

• 138、

  6MeV的α粒子穿过其厚度为其射程1/3的物质后，（）减小，强度不变。

• 139、

  进行放射性测量中，样品计数率的大小为100cps，若要求计数率的相对统计误差不大于1%，则最短测量时

• 140、

  重带电粒子的能量损失率与物质的（）和材料有关。

• 141、

  光电子的能量等于入射γ射线能量减去（）。

• 142、

  20MeV电子入射到Cu（Z=29）靶上，其辐射能量损失率和电离能量损失率之比为（）。

• 143、

  在G-M计数管的工作气体中添加的少量抑制放电的气体，称为（）。

• 144、

  探测器对一个入射粒子的相应是一个（）脉冲。

• 145、

  G-M计数管的输出脉冲幅度与入射粒子的（）无关。

• 146、

  电子脉冲电离室输出回路的时间常数为（）

• 147、

  用涂铀电离室探测中子是通过（）方法间接探测中子

• 148、

  （）与电子相遇会发生湮没而放出湮没光子。

• 149、

  正比计数器雪崩通常发生在（）附近。

• 150、

  测量γ射线一般选用（）。