BSC整体性能测量话统中的出现较多的指配失败次数(设备故障)可能的原因包括()

题库:移动通信专业技术 类型:多项选择题 时间:2017-06-24 01:23:59 免费下载:《基站控制器(BSC)》Word试卷

BSC整体性能测量话统中的出现较多的指配失败次数(设备故障)可能的原因包括()
A.GMC2单板问题
B.GOPT单板问题
C.GLAP单板问题
D.GFBI单板问题

BSC整体性能测量话统中的出现较多的指配失败次数(设备故障)可能的原因包括()

本题关键词:问题目的性,质量问题整改通知单,质量问题联系单,装配整体式楼板,血小板功能障碍,质量问题,质量问题成因分析,获得性血小板功能障碍,设备性能测试检验,调查问卷问题设计;

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