在10～100keV光子能量范围内，光子能量在10keV时光电吸收力95%以上，康普顿吸收为5%。光子能量为100keV时，康普顿吸收占95%以上。射线因素（线质、线量、散射线）对影像信息的影响正确的是（）

A:线质越硬，穿透能力越小 B:线量对影像密度无影响 C:散射线导致照片对比度降低 D:射线量越多，照片密度越小 E:散射线是成像的有用信息

下列问题中适于康普顿背散射成像技术检验的是（）。

A:金属表面的腐蚀裂纹 B:原子序数低、厚度小物体的层析射线照相 C:厚度很大物体的表面层内部缺陷 D:A、B和C

下列技术中适于检验厚度很大物体表面层缺陷的是（）。

A:中子射线照相 B:射线CT技术 C:康普顿背散射成像技术 D:A、B和C

背散射的主要成分是低能射线，这种低能射线是由（）过程产生的

A:光电 B:电子对生成 C:康普顿散射 D:电离

在一般的工业探伤中，射线与物质相互作用时，主要产生的二个效应是（）。

A:光电效应和电子对效应 B:光电效应和康普顿散射 C:康普顿散射和电子对效应 D:康普顿散射和电离

下列问题中适于康普顿背散射成像技术检验的是 ( )。

A:金属表面的腐蚀裂纹 B:原子序数低厚度小物体的层析射线照相 C:厚度很大物体的表面层内部缺陷 D:以上都是

下列技术中适于检验厚度很大物体表面层缺陷的是 ( )。

A:中子射线照相 B:射线 CT 技术 C:康普顿背散射成像技术 D:以上都是

背散射的主要成分是低能射线， 这种低能射线是由(　) 过程产生的

A:光电 B:电子对生成 C:康普顿散射 D:电离

下列问题中适于康普顿背散射成像技术检验的是(　)

A:金属表面的腐蚀裂纹 B:原子序数低厚度小物体的层析射线照相 C:厚度很大物体的表面层内部缺陷 D:以上都是