有一试件中间部分薄，四周厚，射线检测时要使此两部分均达所要求的黑度与品质，则 应(　)

A:不同厚度分别照相 B:在射源与试件之间加一适当的滤板 C:装两张不同速度的底片一次照相 D:以上都可以

X 射线检测时，对物件的穿透力是由(　)决定的

A:射源至底片的距离 B:曝光时间 C:KV D:mA

当其他操作条件不变，管电流的变化会引起X 射线管发生的射线强度变化，其变化大致 与管电流的变化成比例，是什么因素影响管电流与射线强度完全按比例变化(　)

A:波长变化不完全成比例 B:管电压和X 射线设备的电压波形随负载发生变化 C:电流在线性比率上才能改变 D:散射线不能按比率变化

使用黑度计应(　)

A:先调整零点 B:经常用已知黑度的底片校准 C:以上都对 D:以上都错

为了保护X 射线管的使用寿命，每次使用时应先(　)

A:设备接地 B:按制造厂家的规定程序训机 C:用探测仪探测辐射量并测定管制区 D:以上都对

使用底片套（底片暗匣）时应注意(　)

A:清洁 B:防潮 C:防止破损 D:以上都对

下列叙述中正确的是(　)

A:为了工作方便，底片与增感屏同装在底片套内时，每次可多装一些，以后慢慢取用 B:与增感屏同装在一起的底片有增感屏保护，在较高温度下也没有关系 C:有增感屏保护，可防止底片受潮 D:以上都不对

当射源（或焦点）尺寸一定时，被透工件的缺陷尺寸越小，则(　)

A:影像放大率 Mf 数越小，因而缺陷越难发现 B:影像放大率 Mf 数越大，而缺陷越难观察 C:形状修正系数ζ 越大，因而缺陷检出率越低 D:以上都不是

下面关于几何修正系数ζ的叙述，哪一条是错误的(　)

A:当缺陷尺寸小于射源尺寸时，才需要引入ζ 对底片对比度进行修正 B:ζ 值越小，几何条件对底片对比度的影响越大 C:为提高ζ 值而改变透照布置，常用的方法是增大焦距 D:为提高底片对比度，应尽量采用ζ >1 的透照布置

若散射线忽略不计，当透照厚度的增厚量相当于 1/2 半价层时，则胶片接受的照射量将 减少百分之几(　)

A:25 B:70 C:41 D:30