底片上常见伪缺陷产生的原因是什么？

题库:无损检测技术资格人员考试 类型:简答题 时间:2017-06-24 06:31:15 免费下载:《射线检测》Word试卷

底片上常见伪缺陷产生的原因是什么？

本题关键词:质量缺陷成因,产品设计缺陷,原发性免疫缺陷,Hf缺陷,ADA缺陷,DAF缺陷,If缺陷,CR1缺陷,Iff缺陷,C3缺陷;