在相同检测条件下,同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时,则()
题库:无损检测技术资格人员考试
类型:最佳选择题
时间:2017-06-24 06:31:10
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在相同检测条件下,同一缺陷所在试件位置越靠近底片侧时,则()
A.其影像放大得越大,而其几何不清晰度变大
B.其影像放大得越小,而其几何不清晰度变大
C.其影像放大得越大,而其几何不清晰度变小
D.其影像放大得越小,而其几何不清晰度变小
本题关键词:心影放大率,越清片,其他变更,其雄牌其雄酒,其他构件工程,急则治其标,缓则治其本,泽其仲牌泽其仲茶,照片影像密度,其他费;