直接用缺陷波高来比较缺陷的大小时，仪器的“抑制”和“深度补偿”旋钮应置于（）的位置

题库:无损检测技术资格人员考试 类型:最佳选择题 时间:2017-06-24 06:31:09 免费下载:《高级无损检测技术资格人员》Word试卷

直接用缺陷波高来比较缺陷的大小时，仪器的“抑制”和“深度补偿”旋钮应置于（）的位置
A.关
B.开
C.任意

本题关键词:抑制剂缺陷病,补体缺陷,B细胞缺陷,缺陷修补期,补体缺陷症,B细胞缺陷病,Hf缺陷,ADA缺陷,DAF缺陷,If缺陷;