波距L和波高的比值L/H≥1000时，是（）。

A:表面粗糙度 B:波度 C:宏观几何形状偏差 D:波形

在中薄板的直探头多次反射法探伤中，由于多次反射之间的（）作用，使小缺陷多次反射回波高度常常是第一次要比第二次偏低。

A:干涉 B:叠加 C:衍射 D:驻波

与声束不垂直的光滑平面状缺陷反射波的显示不是（）。

A:回波幅度与底面反射波高度相差不大 B:底面反射完全消失 C:缺陷反射波高于底面回波 D:底波与缺陷波同时存在

超声探伤中所谓缺陷的指示长度，指的是（）。

A:采用当量试块比较法测定的结果 B:对大于声束的缺陷，采用底波对比而测得的结果 C:根据缺陷反射波高和探头移动的距离而测得的结果 D:缺陷定量法之一，和AVG曲线的原理相同

（）是以某些人工的规则反射体的反射波高作为基准，而对缺陷进行定量的方法。

A:当量法 B:波高法 C:延伸度法 D:对比法

单斜探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是（）

A:来自工作表面的杂波 B:来自探头的噪声 C:工作上近表面缺陷的回波 D:耦合剂噪声

声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时，缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是（）

A:反射波高随粗糙度的增大而增加 B:无影响 C:反射波高随粗糙度的增大而下降 D:以上A和C都可能

声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时，缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是（）

A:反射波高随粗糙度的增大而增加 B:无影响 C:反射波高随粗糙度的增大而下降 D:以上a和b都可能

用纵波直探头探伤，找到缺陷最大回波後，缺陷的中心位置（）

A:在任何情况下都位于探头中心正下方 B:位于探头中心左下方 C:位于探头中心右下方 D:未必位于探头中心正下方

时间、距离和速度关系测量实验中是根据物体反射回来的哪种波来测定物体的位置。（）

A:超声波； B:电磁波； C:光波； D:以上都不对。