采用底波高度法（F/B百分比法）对缺陷定量时，下面说法正确的是（）。

A:F/B相同，缺陷当量相同 B:该法不能给出缺陷的当量尺寸 C:适于对尺寸较小的缺陷定量 D:适于对密集性缺陷的定量

斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行，但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为（）。

A:面积大于声束截面的当量一定大 B:面积小于声束截面的当量反而大 C:当量忽大忽小 D:以上都可能

斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行，但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为面积小于声束截面的当量反而（）。

用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同且无工件界面的影响），它们的当量（）。

A:面积大的，当量也一定大 B:面积大的，当量不一定比面积小的大 C:面积大的，当量反而比面积小的小 D:相等

钢轨探伤仪加上距离幅度补偿后，在基线刻度1和刻度3分别发现两缺陷的回波，回波距离和回波高度相同，那么这两个缺陷和当量相等。

厚度均为400mm但材质衰减不同的两个锻件，各自采用底波校正灵敏度（Φ2mm平底孔），在工件中间相同声程处发现相同波高的缺陷，则（）

A:两个缺陷当量相同 B:衰减大的锻件中缺陷当量小 C:衰减小的锻件中缺陷当量小 D:不一定

采用底波高度法（F/B百分比法）对缺陷定量时，以下哪种说法正确（）

A:F/B相同，缺陷当量相同 B:该法不能给出缺陷的当量尺寸 C:适于对尺寸较小的缺陷定量 D:适于对密集性缺陷的定量

厚度均为400mm，但材质衰减不同的两个锻件，采用各自底面校正400/Φ2灵敏度进行分别探测，现两个锻件中均发现缺陷，且回波高度和缺陷声程均相同，则：（）

A:两个缺陷当量相同 B:材质衰减大的锻件中缺陷当量小 C:材质衰减小的锻件中缺陷当量小 D:以上都不对

斜探头探测两个表面光滑平整， 相互平行， 但与入射声束取向不良的缺陷。 其当量 为面积小于声束截面的当量反而大。

用单探头法探测二个表面平整,但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无 工件界面的影响),它们的当量:(　)

A:面积大的,当量也一定大 B:面积大的,当量不一定比面积小的为大 C:面积大的,当量反而比面积小的要小 D:它们的当量相等。