由于工件表面粗糙而造成声波传播的损耗， 其表面补偿应为( )。

A:用实验方法测定的补偿分贝值 B:晶片表面和零件表面之间的补偿 C:仪器与探头线的能量损耗补偿 D:以上都不对

当缺陷直径大于( )， 缺陷对声波的反射可看成是镜面反射， 缺陷的检出率很高。

A:波长的 1/2 B:1 个波长 C:波长 3 倍时 D:以上都不对

由于波的绕射， 使超声波探伤灵敏度约为( )， 因此提高频率， 有利于发现更小的 缺陷。

A:波长的 1/2 B:1 个波长 C:1/4 波长 D:1/8 波长

一般来说， 在频率一定的情况下， 在给定的材料中， 横波探测缺陷要比纵波灵敏， 这是因为( )。

A:横波比纵波波长短 B:横波比纵波波长长 C:横波与纵波波长一样长 D:以上都不对

声波容易探测到的缺陷的( )一般不小于波长的 1/2。

A:尺寸 B:水平距离 C:深度 D:以上都不对

调节探伤仪的( )旋钮， 可以控制或改变仪器灵敏度。

A:衰减器 B:水平位移 C:辉度 D:以上都不对

超声仪中使用校准过的衰减器的目的是( )。

A:控制探头角度 B:扩大仪器的动态范围 C:扩大频率范围 D:衰减供给探头的电压

影响仪器( )的旋钮有发射强度和增益旋钮、 衰减器抑制旋钮等。

A:灵敏度 B:水平线性 C:盲区 D:抑制

仪器的衰减器精度要求是任意相邻 12dB 误差( )。

A:≤0.1 dB B:≤1 dB C:≤10 dB D:≤12 dB

晶片共振波长是晶片厚度的( )。

A:2 倍 B:1/2 倍 C:1 倍 D:1/4 倍