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无损检测超声波二级考试试题二
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盲区内缺陷一概不能发现。 ( )

题库:无损检测技术资格人员考试 类型:判断题 时间:2021-05-10 14:52:28 免费下载:《无损检测超声波二级考试试题二》Word试卷

盲区内缺陷一概不能发现。 ( )

盲区内缺陷一概不能发现。 ( )

本题关键词:内部控制缺陷,原发性免疫缺陷,继发性免疫缺陷,一期止血缺陷,Hf缺陷,ADA缺陷,DAF缺陷,If缺陷,CR1缺陷,Iff缺陷;

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为提高分辨力, 在满足探伤灵敏度要求情况下, 仪器的发射强度应尽量调得低一些。 ( )

脉冲反射法可分为缺陷反射法、 底波高度法、 多次底波法。 ( )

多次底波法缺陷检出灵敏度低于缺陷回波法。 ( )

液浸法检测适用于表面粗糙的试件, 探头不易磨损, 耦合稳定, 检测结果重复性好, 便于实现自动 化检

纵波法实质上就是使用直探头进行垂直入射检测的方法。 ( )

管材和焊接接头的超声检测方法主要是垂直入射法, 而横波法是垂直入射法的一种有效的辅助检测 方法。 (

手工超声检测法与自动超声检测法相比具有检测结果准确, 重复性好的优点。 ( )

超声检测方法中的单探头法和双探头法对于工件中缺陷的检出效果是一样的, 两者的区别主要在探 头的数量。

仪器水平线性的好坏直接影响到对缺陷当量大小的判断。 ( )

超声检测前应根据被检对象的形状、 对超声波的衰减和检测技术要求等来选择探头。 ( )

探头的选择包括探头的型式、 频率、 晶片尺寸、 灵敏度余量和斜探头 K 值等。( )

一般根据工件的形状和可能出现缺陷的部位、 方向等条件来选择探头的型式, 使声束轴线尽量与 缺陷平行。

实际检测中, 检测面积大的工件时, 为了提高检测效率宜采用小晶片探头。 ( )

检测小型工件时, 为了提高缺陷定位定量精度宜选用小晶片探头。 ( )

超声耦合是指超声波在检测面上的声强透射率。 ( )

曲面工件检测时, 检测面曲率半径越小, 耦合效果越好。 ( )

对于表面不太平整, 曲率较大的工件, 为了减小耦合损失, 宜选用大晶片探头 。 ( )

超声检测前, 探伤仪校准的主要内容是仪器的扫描速度和检测系统的水平线性校准。 ( )

横波扫查速度的校准方法有两种: 水平调节法和深度调节法。 ( )

模拟式超声波探伤仪横波检测较厚工件焊缝常用深度调节法进行校准。 ( )

相关关键词
内部控制缺陷原发性免疫缺陷继发性免疫缺陷一期止血缺陷
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