直探头接触法探伤时，底面回波降低或消失的原因是（）。

A:耦合不良 B:存在与声束不垂直的缺陷 C:存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷 D:以上都可能

穿透探伤时如发现底面回波与始波间有可疑回波出现，应进行危害性分析.确定（）和判定（）。

A:缺陷存在的位臵裂纹的尺寸 B:裂纹存在的位臵缺陷的性质 C:缺陷存在的位臵缺陷的性质 D:裂纹存在的位臵裂纹的尺寸

有缺陷存在，但不会在仪器示波屏上显示缺陷回波的探伤方法，称为（）。

A:垂直法 B:表面波法 C:斜射法 D:穿透法

表面波探头用于探测工件（）缺陷。

A:近表面 B:表面 C:内部 D:平面形

下面关于各种探头作用的说法，哪一条是错误的？（）

A:纵波直探头用于检测与检测面垂直的缺陷 B:横波斜探头用于检测与检测面倾斜的缺陷 C:表面波探头用于检测表面和近表面缺陷 D:兰姆波探头用于检测薄板中的缺陷

在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是：（）

A:耦合不良 B:存在与声束不垂直的平面缺陷 C:存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷 D:以上都是

双晶直探头由于延迟块的存在， 避免了始脉冲引起的盲区问题， 可以检测近表面缺陷和进行薄板检测。 ( )

在直接接触法直探头检测时， 底波消失的原因是（ ）。

A:耦合不良 B:存在与声束不垂直的平面缺陷 C:存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷 D:以上都可能造成底波消失

在直接接触法直探头探伤时， 底波消失的原因是： (　)

A:耦合不良 B:存在与声束不垂直的平面缺陷 C:存住与始脉冲不能分开的近表面缺陷 D:以上都是

在直接接触法直探头探伤时， 底波消失的原因是： (　)

A:耦合不良 B:存在与声束不垂直的平面缺陷 C:存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷 D:以上都是