用串联式探头进行操作扫查，主要用来检测（）的缺陷。

A:平行于探测面 B:与探测面倾斜 C:垂直于探测面

晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面进入被探材料的检验方法叫做（）。

直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。

下面那种参考反射体与入射声束角度无关：（）

A:平底孔 B:平行于探测面且垂直于声束的平底槽 C:平行于探测面且垂直于声束的横通孔 D:平行于探测面且垂直于声束的V型缺口

方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（）。

A:平行且靠近探测面 B:与声速方向平行 C:与探测面成较大角度 D:平行且靠近底面

方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）

A:平行且靠近探测面 B:与声束方向平行 C:与探测面成较大角度 D:平行且靠近底面

下面哪种参考反射体与入射声束角度无关： (　)

A:平底孔 B:平行于探测面且垂直于声束的平底槽 C:平行于探测面且垂直于声束的横通孔 D:平行于探测面且垂直于声束的 V 型缺口

方形锻件垂直法探伤时， 荧光屏上出现一游动缺陷回波， 其波幅较低但底波降低很大。 该缺陷取 向可能是(　)

A:平行且靠近探测面 B:与声束方向平行 C:与探测面成较大角度 D:平行且靠近底面

方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底 波降低很大,该缺陷的取向可能是(　):

A:平行且靠近探测面 B:与声束方向平行 C:与探测面成较大角度 D:平行且靠近底面

晶片与探测面平行， 使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为________