介质密度越高，声阻抗（）。所以超声在固体中传播时声阻抗（）。

用超声波检验复层材料时，容易探出脱粘的条件是两种材料的（）。

A:声阻抗相差大 B:声阻抗相差小 C:衰减小 D:声速相差小

超声波通过异质薄层时，声压反射率和透过率不仅与（）声阻抗和（）声阻抗有关，而且与（）与（）之比有关。

介质；薄层；薄层厚度；波长

影响直接接触法耦合损耗的原因有：（）

A:耦合层厚度，超声波在耦合介质中的波长及耦合介质声阻抗 B:探头接触面介质声阻抗 C:工件被探测面材料声阻抗 D:以上都对

复合材料探伤，由于两介质声阻抗不同，在界面处有回波出现，为了检查复合层结合质量，下面哪条叙述是正确的：（）

A:两介质声阻抗接近，界面回波小，不易检查 B:两介质声阻抗接近，界面回波大，容易检查 C:两介质声阻抗差别大，界面回波大，不易检查 D:两介质声阻抗差别大，界面回波小，容易检查

声阻抗是衡量介质声学特性的重要参数，温度变化对材料的声阻抗无任何影响。

超声波从声阻抗 Za 的介质透过声阻抗 Zb 的介质进入声阻抗 Zc 的介质， 若下述等式 成立， 则透声效果较佳 ( )。

A:Za=Zc B:Zb=(Za·Zc) 1/2 C:Zc=Za·Zb D:Za=Zb·Zc

检测粗糙表面的工件时， 为提高声能传递， 应选用（ ）。

A:声阻抗小且粘度大的耦合剂 B:声阻抗小且粘度小的耦合剂 C:声阻抗大且粘度大的耦合剂 D:声阻抗适中黏度适中的耦合剂

影响直接接触法耦合损耗的原因有： (　)

A:耦合层厚度， 超声波在耦合介质中的波长及耦合介质声阻抗 B:探头接除面介质声阻抗 C:工件被探测面材料声阻抗 D:以上都对

复合材料探伤， 由于两介质声阻抗不同， 在界面处有回波出现， 为了检查复合层结合质量， 下面哪 条叙述是正确的： (　)

A:两介质声阻抗接近， 界面回波小， 不易检查 B:两介质声阻抗接近， 界面回波大， 容易检查 C:两介质声阻抗差别大， 界面回波大， 不易检查 D:两介质声阻抗差别大， 界面回波小， 容易检查