用试件底面的方法校准探测灵敏度时， 底面所在部位应平整( )。

题库:无损检测技术资格人员考试 类型:最佳选择题 时间:2021-05-10 14:38:44 免费下载:《无损检测超声波三级考试试题二》Word试卷

用试件底面的方法校准探测灵敏度时， 底面所在部位应平整( )。
A.无缺陷
B.有规则的缺陷
C.有小缺陷
D.以上均不是

本题关键词:B细胞缺陷,Hf缺陷,ADA缺陷,DAF缺陷,If缺陷,CR1缺陷,Iff缺陷,C3缺陷,酶缺陷,B细胞缺陷检测;