超声检测的单探头法难以检出的缺陷是 （ ）。

A:与波束轴线垂直的片状缺陷 B:立体型缺陷 C:与波束轴线平行的片状缺陷 D:A 和 B

主要用来发现与探测面平行的片状缺陷的双探头法是（ ）。

A:交叉式 B:V 型串列式 C:K 型串列式 D:串列式

超声检测时对于定量要求高的情况应选则（ ） 的仪器。

A:水平线性误差小 B:垂直线性好、 衰减器精度高 C:盲区小、 分辨率好 D:灵敏度余量高、 信噪比高、 功率大

探头的晶片尺寸增加对探头的（ ） 有不利影响。

A:声束的指向性 B:近场区长度 C:远距离缺陷检出能力 D:以上都是

检测时采用较高的检测频率, 可有利于（ ）。

A:发现较小的缺陷 B:区分开相邻的缺陷 C:改善声束指向性 D:以上都对

采用频率（ ） 的直探头在不锈钢大锻件超探时， 可获得较好的穿透能力。

A:1.25MHZ B:2.5MHZ C:5MHZ D:10MHZ

被检工件晶粒粗大， 通常会引起（ ）。

A:草状回波增多 B:信噪比下降 C:底波次数减少 D:以上的全部或部分现象发生

超声检测中, 选用晶片尺寸大的探头优点是（ ）。

A:曲面检测时可减少耦合损失 B:可减少材质衰减损失 C:辐射声能大 D:声束能量

耦合剂的最重要作用是（ ）。

A:便于探头移动 B:防止探头磨损工件表面 C:使超声波能传入工件 D:减少摩擦

不是影响声耦合的主要因素有（ ）。

A:耦合层的厚度 B:耦合剂的声阻抗 C:工件表面粗糙度和工件表面形状 D:耦合剂的涂刷