CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）

A:测定斜探头K值 B:测定直探头盲区范围 C:测定斜探头分辨率 D:以上全部

IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。

IIW试块主要用于测试和校验探伤仪的技术性能指标。

如何在IIW试块上测试探头性能的“双峰”？

《钢轨探伤管理规则》规定，探伤生产机构应配备标准试块如CS-1-5试块、CSK-1A或IIW试块。

对于Φ83x14mm规格的钢管对接环焊缝探伤时，采用的对比试块最好是（）

A:IIW2试块 B:IIW1试块 C:实际工件试块 D:任何平底孔试块都可以

利用 IIW 试块上 Φ50mm 孔与两侧面的距离， 仅能测定直探头盲区的大致范围。

当斜探头对准 IIW2 试块上 R5 曲面时， 荧光屏上的多次反射回波是等距离的。

与 IIW 试块相比 CSK-IA 试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力。

国际焊接学会的 IIW 试块可用来测定超声波检测仪和探头的组合性能指标， 其中包括： ________、________、________、________、________、________、________、________

水平线性 ; 垂直线性 ; 灵敏度 ; 分辨力 ; 盲区 ; 声程 ; 入射点 ; 折射角