由N=D²/4λ可知晶片尺寸增加，近场区长度迅速增加，（）。

题库:无损检测技术资格人员考试 类型:最佳选择题 时间:2017-06-24 06:31:27 免费下载:《初级无损检测技术资格》Word试卷

由N=D²/4λ可知晶片尺寸增加，近场区长度迅速增加，（）。
A.对探伤有利
B.对探伤不利
C.半扩散角增大
D.超声波能量发散

本题关键词:增加骨密度片,存货增长速度,体重增加,对数增殖期,关节液增加,工程量增加,平扫加增强,费用增加额,成本增加额,超声探伤;