中级无损检测-射线检测试题十一
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1、
选用焦距越小越好
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2、
较高能量(波长短)的射线可在射线底片上得到较高的工件对比度
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3、
“胶片衬度”和“工件对比度”都与工件厚度变化引起的黑度差有关
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4、
通过同一工件相邻部位后的射线强度差别越大，则工件对比度越大
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5、
当射线穿过铅增感屏时,能发生光电效应和康普顿效应，这就是它起增感作用的原因
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6、
在管电压低于150千伏时，才使用铅增感屏
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7、
像质计(透度计)的主要用途是确定缺陷是否合格
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8、
某一材料的等效系数乘以它的实际厚度，就等效于标准材料厚度
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9、
在管电压低于100千伏时，金属增感屏几乎没有什么增感作用
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10、
从胶片放入定影液到胶片乳黄色消失的时间叫做通透时间
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11、
从胶片放入定影液到胶片乳黄色消失的时间叫做定影时间
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12、
在显影操作过程中，显影液的温度应控制在室温
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13、
在显影操作过程中，显影液的温度应控制在18+2C
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14、
在显影操作过程中，显影液的温度应控制在20+2C
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15、
在显影操作过程中，显影液的温度应控制在24+2C
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16、
手工冲洗胶片时，如果没有停影液可供使用，则可以将胶片直接放入定影液
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17、
手工冲洗胶片时，如果没有停影液可供使用，则可以将胶片显影时间缩短一分钟后直接 放入定影液
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18、
手工冲洗胶片时，如果没有停影液可供使用，则可以将胶片先在活水中至少冲洗2分钟, 然后放入定影液
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19、
防止底片产生水斑的方法是将湿底片快速干燥
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20、
防止底片产生水斑的方法是先将湿底片在润湿液中浸一、两分钟
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21、
防止底片产生水斑的方法是使用新鲜的定影液
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22、
防止底片产生水斑的方法是延长水洗时间
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23、
|△D 1≥|△Dmin |时，才能发现缺陷
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24、
未焊透和未熔合的主要区别是产生原因不同，因此缺陷的形状和产生部位也不同
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25、
在底片上观察透度计金属丝时，应先从粗丝端开始向细丝端方向观察
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26、
在焊缝.上摆放线条型像质计时，粗线端应接近射线透照场边缘方向
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27、
铅增感屏的剥落部位，在底片上的黑度大
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28、
射线照像质量等级是根据底片的黑度、清晰度和对比度的不同来划分的
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29、
携带式X光机通常采用自整流式的半波整流，因而产生X射线的利用率比较低
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30、
X光管阳极靶材料用钨的重要原因之一是其熔点高
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31、
γ射线源的储罐采用贫化铀材料主要是减轻重量
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32、
x光管加热电流的微小变化，就会引起阳极电流较大的变化
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33、
金属增感屏的金属箔是由铅、钢、铜、钽或钨等金属分别轧制而成的
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34、
金属增感屏的结构是金属箔及与其紧密胶粘在一起的衬纸组成的
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35、
金属增感屏(金属箔或衬纸)的表面应光滑清洁和平整，不应有肉眼可辨的孔洞、划痕、 擦伤、皱纹、油污、
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36、
金属增感屏的表面质量可用肉眼在紫外光下进行检查
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37、
不锈钢的晶粒较粗大，在一.定的射线透照条件下，射线底片上可能产生衍射斑纹
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38、
国产天津工业II型胶片与Agfa D7胶片性能相似，均为中速胶片
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39、
焊缝的焊冠越高，缺陷的检出就越困难
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40、
壁厚为16毫米的压力容器不适合采用钴60进行射线检验
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41、
如果焊缝的加强高较高或者厚度差较大，为使焊缝及其热影响区的黑度均在规定的范围 内，可以适当降低射线能
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42、
胶片的粒度是影响小缺陷可见性的唯一因素
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43、
当射源侧无法放置像质计时，也可将像质计放置在胶片侧，但应通过对比试验，使实际 像质指数达到规定的要求
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44、
当采用像质计置放在胶片侧时，应在胶片上放置识别铅字母，例如“F”，以示该底片上 像质计影像与放置在射
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45、
对于环焊缝，在条件许可的情况下，最适宜的做法是采用内照中心法进行透照
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46、
单层卷焊压力容器的环焊缝承受轴向应力，纵焊缝承受环向(切向)应力，在承压状态 下，轴向应力大于环向应
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47、
为了保证焊接接头的强度，焊缝的加强高应尽量高一些
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48、
铅增感屏上的深度划伤在射线底片.上呈黑色条痕
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49、
荧光增感屏上的深度划伤在射线底片上呈白色条痕
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50、
识别界限对比度的值越大，发现小缺陷的能力越强
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51、
为了获得高衬度和高清晰度的射线图像，在选择X射线机时，焦点的有效面积应尽可能 小
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52、
当设计低压X射线管时，为了考虑到滤波、效率、散热等因素, X射线管的窗口一般采 用铝合金制成
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53、
采用中子照相法时,其曝光方法是利用镉屏和钇屏受中子激发后再使用X射线胶片曝光
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54、
一般采用钴60照射钢材时，适用的检查厚度范围在200毫米以内或其当量厚度
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55、
一般采用钴60照射钢材时，适用的检查厚度范围在100毫米以内或其当量厚度
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56、
钴60的半衰期为5.3年，如该放射源已存放三年，则透照时的曝光时间应增加约37%
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57、
钴60的半衰期为5.3年，如该放射源已存放三年,则透照时的曝光时间应增加约49%
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58、
铱192 的半衰期为75天，若目前检验.工件的最佳曝光时间为20分钟,则经过150天后， 在相同的摄
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59、
假定管电压和曝光时间一定，在焦距500毫米和管电流5毫安的情况下可得到曝光适宜 的底片，若把焦距增加
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60、
假定管电压和曝光时间一定，在焦距500毫米和管电流5毫安的情况下可得到曝光适宜 的底片，若把焦距增加
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61、
已知铱192 源的放射性强度为10 居里，在焦距400毫米时可得到正确的曝光量，若其 他条件不变，把
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62、
已知铱192 源的放射性强度为10居里，在焦距400毫米时可得到正确的曝光量，若其 他条件不变，把焦
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63、
对于管电压和管电流都不变的某一曝光量，当焦距从1200毫米减少到800毫米时，其 曝光时间将从原来的
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64、
已知铱192源在距离1米时的曝光时间为60分钟，如果把曝光时间缩短为15分钟，则 需要将距离缩短到0
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65、
假设正确的曝光量为20毫安4分钟，如果管电流改为10毫安，则曝光时间就应该是2 分钟
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66、
假设正确的曝光量为20亳安4分钟，如果管电流改为10毫安，则曝光时间就应该是4 分钟
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67、
在胶片特性曲线上连接给定两点密度的直线的斜率称为平均梯度
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68、
根据胶片特性曲线上的斜率可以判别胶片的感光度
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69、
通过尽量提高X射线管的管电压，可以起到降低底片衬度的作用
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70、
通过尽量提高X射线管的管电流，可以起到降低底片衬度的作用
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71、
利用分辨率测定法可以测定X射线管的焦点
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72、
利用针孔成像测定法可以测定X射线管的焦点
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73、
在X射线机中，一般通过调节阴极负载电阻来控制X射线管的电流
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74、
在X射线机中，一般通过调节灯丝电流来控制X射线管的电流
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75、
在管电压不太高时，用铅箔增感屏进行X射线照相时，主要的目的是为了减少散射线的 影响
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76、
铅箔增感屏比荧光增感屏的增感作用大
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77、
只要不超出几何模糊度允许值，应使焦距尽可能短
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78、
若仅从高清晰度的需要出发，焦距应尽可能短
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79、
在X射线管窗口处加装滤光板可以增强二次辐射的X射线
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80、
在X射线管窗口处加装滤光板可以滤掉软辐射线，得到更均匀的X射线束
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81、
X射线管的管电压值影响X射线束的能量和强度
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82、
如果提高管电流，而管电压不变，射线束的穿透力没有变化
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83、
铅的密度是11.4，钢的密度是7.8，铅的密度约是钢的1.5 倍，用220KV的X射线进行 照相时，
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84、
铅的密度是11.4，钢的密度是7.8，铅的密度约是钢的1.5倍，用220KV的X射线进行 照相时，2
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85、
使用铅或铅化锑高原子序数增感屏的目的是为了减小散射线和缩短曝光时间
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86、
关于底片清晰度，它与物体至胶片的距离成正比，与焦点大小成反比
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87、
关于底片清晰度，它与焦点大小成正比，与射线源至物体的距离成反比
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88、
粒度大的X射线胶片其感光速度比粒度小的胶片快
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89、
强度一定的两种同位素源，若其放射性比活度值不同，则对放射性比活度值较高的源来 说，其半衰期比放射性比
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90、
强度一定的两种同位素源，若其放射性比活度值不同，则对放射性比活度值较高的源来 说，其外形尺寸比放射性
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91、
强度-定的两种同位素源，若其放射性比活度值不同，则对放射性比活度值较高的源来 说，其外形尺寸比放射性
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92、
提高荧光屏观察法(即时射线成像)灵敏度的主要困难是结果无法再现和周期性地置换 荧光屏难以实现
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93、
提高荧光屏观察法(即时射线成像)灵敏度的主要困难是受到亮度和荧光屏材料晶粒尺 寸的限制
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94、
表达式: (毫安x时间) /距离平方，称之为胶片的梯度
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95、
在X射线管和胶片距离一半处放置一块用高密度材料制成并钻有小孔的板，这是用来测 量中心射线的强度
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96、
在X射线管和胶片距离一半处放置一块用高密度材料制成并钻有小孔的板，这是用来过 滤散射线的
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97、
在试样周围放置铅板的目的是防止照相时试样移位
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98、
在试样周围放置铅板的目的是增加被检测对象的对比度
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99、
每一台X射线机必须制作专用的曝光曲线，这是因为对于不同的仪器，即使__和毫安 值相同，而所产生的X射
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100、
X射线照相时使用的电压值越高，其衬度越高
