在有底波出现的直探头探伤中，缺陷一次回波的显示情况可能有（）。

A:出现在第一次底波之前 B:出现在第一次底波之后 C:没有缺陷回波，只有底波降低或消失 D:以上都有可能

长轴类锻件从端面作轴向探测时，容易出现的非缺陷回波是（）。

A:迟到波 B:61°反射波 C:材料晶界回波 D:以上都不对

长轴类锻件从端面作轴向检测时，容易出现的非缺陷回波是（）

A:三角反射波 B:61°反射波 C:轮廓回波 D:迟到波

锻件探伤中，示波屏上单独出现的缺陷回波称为单个缺陷回波，一般单个缺陷间距大于（）。

A:30mm B:35mm C:40mm D:50mm

在锻件探伤中，出现草状回波的原因很有可能是由于（）

A:工件内有大缺陷 B:灵敏度过高 C:晶粒粗大和树枝状结晶

下面有关用试块法调节锻件探伤灵敏度的叙述中哪点是正确的？（）

A:对厚薄锻件都适用 B:对平面和曲面锻件都适用 C:应作耦合及衰减差补偿 D:以上全部

长轴类锻件从断面作轴向探测时，容易出现的非缺陷回波是（）

A:三角反射波 B:61反射波 C:轮廓回波 D:迟到波

在锻件探伤中，出现草状回波的原因主要是由于（）

A:工件内有大缺陷 B:灵敏度过高 C:晶粒粗大和树枝状结晶

长轴类锻件从端面做轴向探测时，容易出现的非缺陷回波是（）

A:三角反射波 B:61°反射波 C:轮廓回波 D:迟到波

锻件探伤中，下面有关“幻象波”的叙述哪点是不正确的？（）

A:有时幻象波在整个扫描线上连续移动 B:有时幻象波在扫描线上是稳定的且位于底波之前 C:用耦合剂拍打工件底面时，此波会跳动或波幅降低 D:用耦合剂拍打工件底面时，此波无变化