HiCN的吸收波峰位于 ( )

A:572nm B:540nm C:504nm D:578nm E:634nm

男，20岁。牙松动1年。否认全身性疾病 史。检查:牙面少量牙石，全口牙龈红肿，探诊 出血。全口根尖片:立|近中牙槽嵴角形吸收为 根长的1/2,上、下切牙牙槽骨吸收达根长1/3, 余牙无牙槽骨吸收。

诊断为牙周炎的最主要依据是()

A:发现牙松动1年 B:牙面存在牙石 C:牙龈红肿 D:探诊出血 E:牙槽骨吸收

某男性患者，21岁，下颌呈相对后退位，下颌角大，口唇闭合呈现口唇肌肉紧张。覆Ⅲ度，覆盖7mm，磨牙远中咬合关系，上颁拥挤4mm，ANB为8°，SNA为81°，下颌无拥挤，下前牙略唇倾，Spee曲线曲度3mm

整平Spee曲线需要间隙为

A:1mm B:2mm C:3mm D:4mm E:5mm

X线胶片特性曲线是描绘曝光量与所产生的密度之间关系的一条曲线，由于这条曲线可以表示出感光材料的感光特性，所以称之为"特性曲线"。特性曲线的横坐标为曝光量，以对数值lgE表示；纵坐标为密度，以D表示。特性曲线由足部、直线部、肩部和反转部组成。特性曲线可提供感光材料的本底灰雾（D）、感光度(S)、对比度（γ）、最大密度(D)、宽容度(L)等参数，以表示感光材料的感光性能。

关于胶片特性曲线的说法，错误的是

A:表示密度值与曝光量之间的关系 B:横轴表示曝光量对数值，纵轴表示密度值 C:能够表达出感光材料的感光特性 D:横轴表示密度值，纵轴表示曝光量 E:可称为H-D曲线

患者郝某，男性，22岁，下颌呈相对后退位，下颌角大，口唇闭合呈现口唇肌肉紧张。覆Ⅲ度，覆盖7mm，磨牙远中咬合关系，上颁拥挤4mm，ANB为8°，SNA为81°，下颌无拥挤，下前牙略唇倾，Spee曲线曲度3mm

整平Spee曲线需要间隙为

A:1mm B:2mm C:3mm D:4mm E:5mm

某男性患者，22岁，下颌呈相对后退位，下颌角大，口唇闭合呈现口唇肌肉紧张。覆Ⅲ度，覆盖7mm，磨牙远中咬合关系，上颌拥挤4mm，ANB为8°，SNA为81°，下颌无拥挤，下前牙略唇倾，Spee曲线曲度3mm

整平Spee曲线需要间隙为

A:1mm B:2mm C:3mm D:4mm E:5mm

SDS检测Hb的吸收曲线波峰应位于（）

A:500nm B:504nm C:538nm D:540nm E:548nm

HiCN的吸收波峰位于（　）

A:504nm B:572nm C:540nm D:578nm E:634nm

HiCN的吸收波峰位于（）

A:504nm B:572nm C:540nm D:578nm E:634nm