分光光度仪属于精密仪器，使用要求比较严格，一般都要进行光源检查和波长校正。

关于波长校正的说法正确的为

A:可用镨钕玻璃校正 B:温度对波长的精度无影响 C:标准重铬酸钾溶液不能用来校正波长 D:波长精度在+_6~+_7nm可不调整 E:不能通过光源检查来筛选波长

卡方的连续性校正使得校正前的卡方值与校正后的卡方值有如下关系，应用时应注意其适用条件

A:校正前的卡方值小于校正后的卡方值 B:校正前的卡方值等于校正后的卡方值 C:校正前的卡方值大于校正后的卡方值 D:不确定 E:校正前的卡方值等于校正后的卡方值+0.5

空盒气压计可从刻度盘上直接读出静压值，但需校正，每台仪跑龙套的出厂检定书中均附有（）。

A:刻度 B:温度 C:补充校正值 D:度盘最小分度值

X2检验在如下哪种情况下，不需要计算校正的X2值

A:1≤T＜5，n≥40 B:T＜5 C:v≥2 D:T＜1 E:n＜40

X2检验在如下哪种情况下，不需要计算校正的X2值

A:T＜5 B:1≤T＜5，n≥40 C:当几个X2值相加时 D:T＜1 E:n＜40

四格表X²检验，当n≥40，且1≤T＜5时，校正X²=4.89与未校正X²值相比，可使

A:P值减小 B:P值增大 C:P值等于1 D:P值不变 E:P值可能减小或增大

四格表χ²检验，当n≥40，且1≤T＜5时，校正χ²=4.89与未校正χ²值相比，可使

A:P值减小 B:P值增大 C:P值等于1 D:P值不变 E:P值可能减小或增大