ICP-AES法测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。

A:光谱干扰 B:化学干扰 C:电离子干扰

原子吸收光度法的背景干扰，主要表现为（）形式。

A:火焰中被测元素发射的谱线 B:火焰中干扰元素发射的谱线 C:光源产生的非共振线 D:火焰中产生的分子吸收

原子吸收光度法中，背景干扰表现为（）。

A:火焰中干扰元素发射的谱线 B:光源产生的非共振线 C:火焰中被测元素发射的谱线 D:火焰中产生的分子吸收

原子吸收干扰中的光谱干扰分（）和背景干扰。

A:物理干扰 B:化学干扰 C:电离干扰 D:谱线干扰

原子吸收中的背景干扰主要来源于（）。

A:火焰中待测元素发射的谱线 B:干扰元素发射的谱线 C:光源辐射的非共振线 D:分子吸收

ICP-AES法测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。

A:光谱干扰 B:化学干扰 C:电离干扰

原子吸收光谱法物理干扰系指（）、发射光谱干扰和背景干扰。

A:火焰温度 B:灵敏度 C:电离干扰 D:反应速度

背景干扰主要是由（）和光散射而产生的。

A:原子吸收 B:检测量 C:其他干扰 D:分子吸收

使用氘灯来消除哪种干扰（）

A:光谱干扰 B:电离干扰 C:物理干扰 D:化学干扰 E:背景吸收