患儿，7岁，近1周来，右下后牙食物嵌塞。检查：右下第一乳磨牙远中邻面深龋洞。探敏感，叩（-），无松动，龈正常。右下第二乳磨牙大面积龋坏，探及髓腔，探痛（-），叩(+)。颊侧瘘管溢脓，I1度松动，左下第一,二乳磨牙残冠，I1度松动，叩(+)，龈红肿。双侧六龄牙萌出2/3。X线片示：右下第一乳磨牙远中邻面深龋，近髓，根分歧处骨密度较正常偏低，未见根吸收及根尖周病变，恒牙胚硬骨板连续。右下第二乳磨牙龋坏达髓腔，根尖周及根分歧处有弥散影，恒牙胚硬骨板消失。左下第一,二乳磨牙龋坏达髓腔，根尖周大面积阴影，牙根部分吸收，恒牙胚硬骨板消失。

如果左下第一,二乳磨牙，右下第二乳磨牙拔除后怎样管理间隙，下列哪种处理较好

A:功能保持器 B:下颌舌弓保持器 C:暂时不做保持器，观察恒牙萌出情况 D:全冠丝圈保持器 E:双侧六龄牙丝圈保持器

患者男，37岁，因釉质发育不良而颌面严重磨损。检查活髓牙，面广泛缺损，无龋坏，不松动，与对牙间有约1．0mm咬合间隙，邻接正常，余无特殊

拟为该患者进行高嵌体修复，牙体制备时下述哪一项是正确的

A:面均匀磨去0．5~1．0mm B:去除面过锐尖嵴 C:轴壁消除倒凹 D:龈边缘制作肩台 E:邻面制备出足够间隙

患者李某，26岁，左下第三磨牙低位前倾阻生，曾反复智齿冠周发炎，且因不易清洁而造成相邻前牙邻面龋坏，现要求拔除

下颌近中阻生智齿造成第二磨牙远中龋坏，此时了解龋坏程度的最佳检查方法是

A:探针检查测定 B:冷热刺激法测定 C:电活力测定 D:患者主诉 E:拍X线片

患者男，37岁，因釉质发育不良而颌面严重磨损。检查活髓牙，面广泛缺损，无龋坏，不松动，与对牙间有约1．0mm咬合间隙，邻接正常，余无特殊

拟为该患者进行高嵌体修复，牙体制备时下述哪一项是正确的

A:面均匀磨去0．5~1．0mm B:去除面过锐尖嵴 C:轴壁消除倒凹 D:龈边缘制作肩台 E:邻面制备出足够间隙

患者男，37岁，因釉质发育不良而颌面严重磨损。检查活髓牙，面广泛缺损，无龋坏，不松动，与对牙间有约1．0mm咬合间隙，邻接正常，余无特殊

拟为该患者进行高嵌体修复，牙体制备时下述哪一项是正确的

A:面均匀磨去0．5~1．0mm B:去除面过锐尖嵴 C:轴壁消除倒凹 D:龈边缘制作肩台 E:邻面制备出足够间隙

某男性患者，26岁，左下第三磨牙低位前倾阻生，曾反复智齿冠周发炎，且因不易清洁而造成相邻前牙邻面龋坏，现要求拔除

下颌近中阻生智齿造成第二磨牙远中龋坏，此时了解龋坏程度的最佳检查方法是

A:探针检查测定 B:冷热刺激法测定 C:电活力测定 D:患者主诉 E:拍X线片

患者李某，27岁，左下第三磨牙低位前倾阻生，曾反复智齿冠周发炎，且因不易清洁而造成相邻前牙邻面龋坏，现要求拔除

下颌近中阻生智齿造成第二磨牙远中龋坏，此时了解龋坏程度的最佳检查方法是

A:探针检查测定 B:冷热刺激法测定 C:电活力测定 D:患者主诉 E:拍X线片

某患儿，7岁，近1周来，右下后牙食物嵌塞。检查：右下第一乳磨牙远中邻面深龋洞。探敏感，叩（-），无松动，龈正常。右下第二乳磨牙大面积龋坏，探及髓腔，探痛（-），叩(+)。颊侧瘘管溢脓，Ⅰ度松动，左下第一、二乳磨牙残冠，Ⅰ度松动，叩(+)，龈红肿。双侧六龄牙萌出2/3。X线片示：右下第一乳磨牙远中邻面深龋，近髓，根分歧处骨密度较正常偏低，未见根吸收及根尖周病变，恒牙胚硬骨板连续。右下第二乳磨牙龋坏达髓腔，根尖周及根分歧处有弥散影，恒牙胚硬骨板消失。左下第一、二乳磨牙龋坏达髓腔，根尖周大面积阴影，牙根部分吸收，恒牙胚硬骨板消失。

如果左下第一、二乳磨牙，右下第二乳磨牙拔除后怎样管理间隙，以下哪种处理较好

A:功能保持器 B:下颌舌弓保持器 C:暂时不做保持器，观察恒牙萌出情况 D:全冠丝圈保持器 E:双侧六龄牙丝圈保持器