热氧化常见的缺陷有？

题库:集成电路技术 类型:简答题 时间:2017-06-23 18:42:58 免费下载:《集成电路技术综合练习》Word试卷

热氧化常见的缺陷有？

本题关键词:有氧氧化,糖有氧氧化,Hf缺陷,ADA缺陷,DAF缺陷,If缺陷,CR1缺陷,Iff缺陷,C3缺陷,酶缺陷;