由X线管焦点辐射出的X线穿过被检体时，受到被检体各组织的吸收和散射而衰减，使透过的X线强度的分布呈现差异，到达屏-片系统，转换成可见光强度的分布差异，并传递给胶片，形成银颗粒的空间分布，再经显影处理成为二维光学分布，形成X线照片影像。

决定X线"质"的因素主要是

A:kV B:mAs C:焦点大小 D:X线管方向 E:被检体部位

由X线管焦点辐射出的X线穿过被检体时，受到被检体各组织的吸收和散射而衰减，使透过的X线强度的分布呈现差异，到达屏-片系统，转换成可见光强度的分布差异，并传递给胶片，形成银颗粒的空间分布，再经显影处理成为二维光学分布，形成X线照片影像。

被检体各组织对X线的吸收和散射是由于

A:X线对比度 B:物体对比度 C:人工对比度 D:胶片对比度 E:光学对比度

X线管容量是指X线管在安全使用条件下能承受的最大负荷量，是一次负荷的安全性。即在确定曝光时间下所能允许使用的最大曝光条件--管电压和管电流。X线机中设置容量保护电路就是为了防止一次性超负荷曝光。X线管的容量(Pa)与管电压的有效值、管电流的有效值成正比。X线管的容量还与设备__整流方式和曝光时间有关。X线发生时，绝大部分电能转化为热量。

供给X线管的能量，有多少转换成X线

A:小于1% B:4% C:10% D:85% E:99%

由X线管焦点辐射出的X线穿过被检体时，受到被检体各组织的吸收和散射而衰减，使透过的X线强度的分布呈现差异，到达屏-片系统，转换成可见光强度的分布差异，并传递给胶片，形成银颗粒的空间分布，再经显影处理成为二维光学分布，形成X线照片影像。

透过的X线强度的分布呈现差异称之为

A:X线对比度 B:物体对比度 C:人工对比度 D:胶片对比度 E:光学对比度

高速运行的电子将靶物质原子中某层轨道电子击脱，形成空穴。此时，外层（高能级）轨道电子向内层（低能级）空穴跃迁，释放能量，产生X线，称为特征辐射。特征X线的波长由跃迁电子能量差决定，与高速运行电子的能量无关。高速电子的能量可决定能够击脱某壳层的电子。管电压在70kVp以下时，电子产生的动能不能把钨靶原子的K壳层电子击脱，故不能产生K系特征X线。

有关特征X线的解释，错误的是

A:高速电子与靶物质轨道电子作用的结果 B:特征X线的质取决于高速电子的能量 C:特征X线的波长由跃迁的电子能量差决定 D:靶物质原子序数较高特性X线的能量大 E:70kVp以下钨不产生K系特征X线

高速运行的电子将靶物质原子中某层轨道电子击脱，形成空穴。此时，外层（高能级）轨道电子向内层（低能级）空穴跃迁，释放能量，产生X线，称为特征辐射。特征X线的波长由跃迁电子能量差决定，与高速运行电子的能量无关。高速电子的能量可决定能够击脱某壳层的电子。管电压在70kVp以下时，电子产生的动能不能把钨靶原子的K壳层电子击脱，故不能产生K系特征X线。

与X线本质不同的是

A:无线电波 B:微波 C:超声波 D:红外线 E:γ射线

高速运行的电子将靶物质原子中某层轨道电子击脱，形成空穴。此时，外层（高能级）轨道电子向内层（低能级）空穴跃迁，释放能量，产生X线。X线的波长由跃迁电子能量差决定，与高速运行电子的能量无关。高速电子的能量可决定能够击脱某壳层的电子。管电压在70kVp以下时，电子产生的动能不能把钨靶原子的K壳层电子击脱。

这种条件下产生的X线的叙述，正确的是

A:具有各种频率 B:能量与电子能量成正比 C:称为特征X线 D:可发生在任何管电压 E:X线的能量等于两能级的和

由X线管焦点辐射出的X线穿过被检体时，受到被检体各组织的吸收和散射而衰减，使透过的X线强度的分布呈现差异，到达屏-片系统，转换成可见光强度的分布差异，并传递给胶片，形成银颗粒的空间分布，再经显影处理成为二维光学分布，形成X线照片影像。

决定X线"质"的因素主要是

A:kV B:mAs C:焦点大小 D:X线管方向 E:被检体部位