对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是

A:主观性颗粒质量--肉眼观察获得的颗粒状况 B:客观性颗粒质量--物理学检查的颗粒状况 C:常用的检测方法有RMS的测量 D:常用的检测方法有维纳频谱的测量 E:MTF用来测量颗粒度

对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是

A:主观性颗粒质量——肉眼观察获得的颗粒状况 B:客观性颗粒质量——物理学检查的颗粒状况 C:常用的检测方法有RMS的测量 D:常用的检测方法有维纳频谱的测量 E:MTF用来测量颗粒度

对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是

A:主观性颗粒质量——肉眼观察获得的颗粒状况 B:客观性颗粒质量——物理学检查的颗粒状况 C:常用的检测方法有RMS的测量 D:常用的检测方法有维纳频谱的测量 E:MTF用来测量颗粒度

对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是（）

A:主观性颗粒质量：肉眼观察获得的颗粒状况 B:客观性颗粒质量：物理学检查的颗粒状况 C:常用的检测方法有RMS的测量 D:常用的检测方法有维纳频谱的测量 E:MTF用来测量颗粒度

对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是（）。

A:主观性颗粒质量——肉眼观察获得的颗粒状况 B:客观性颗粒质量——物理学检查的颗粒状况 C:常用的检测方法有RMS的测量 D:常用的检测方法有维纳频谱的测量 E:MTF用来测量颗粒度