关于电离室控时自动曝光控制叙述错误的是

A:利用气体的电离效应 B:X线强度大时，电离电流大 C:X线强度大时，曝光时间长 D:电容充电电流与X线曝光量成反比 E:电离电流小时，曝光时间长

气体闪烁探测器探测射线的依据是

A:电离作用 B:荧光现象 C:感光效应 D:康普顿散射 E:光电效应

利用气体吹弧是使带电离子扩散和强烈的冷却而（）。

下列（）射线对气体的电离效应最强。

A:α射线 B:β射线 C:中子能量 D:X、γ射线

关于电离室控时自动曝光控制叙述错误的是（）

A:利用气体的电离效应 B:X线强度大时，电离电流大 C:X线强度大时，曝光时间长 D:电容充电电流与X线曝光量成反比 E:电离电流小时，曝光时间长

关于电离室控时自动曝光控制叙述错误的是（）。

A:利用气体的电离效应 B:X线强度大时，电离电流大 C:X线强度大时，曝光时间长 D:电容充电电流与X线曝光量成反比 E:电离电流小时，曝光时间长