滤线栅是由许多薄的铅条和易透过X线的低密度物质作为充填物，交替排列组成的。在X线摄影中使X线的中心线对准滤线栅板中心，原射线投射方向与滤线栅的铅条排列间隙在同一方向上，能通过铅条间隙而到达胶片产生影像。由于被照体产生的散射线是多中心、多方向的，其中大部分散射线被铅条所吸收，只有一小部分通过。 滤线栅的指标： （1）栅比(R)：滤线栅铅条高度与填充物幅度的比值为栅比。 （2）栅密度(n)：n表示在滤线栅表面上单位距离(1cm)内，铅条与其间距形成的线对数，常用线／cm表示。

关于滤线栅使用注意事项的叙述，错误的是

A:将滤线栅置于焦点和被照体之间 B:焦点到滤线栅的距离与栅焦距相等 C:X线中心线对准滤线栅的中心 D:原射线投．射方向与滤线棚铅条排列间隙平行 E:原发X线与滤线栅铅条平行

滤线栅是由许多薄的铅条和易透过X线的低密度物质作为充填物，交替排列组成的。在X线摄影中使X线的中心线对准滤线栅板中心，原射线投射方向与滤线栅的铅条排列间隙在同一方向上，能通过铅条间隙而到达胶片产生影像。由于被照体产生的散射线是多中心、多方向的，其中大部分散射线被铅条所吸收，只有一小部分通过。 滤线栅的指标： （1）栅比(R)：滤线栅铅条高度与填充物幅度的比值为栅比。 （2）栅密度(n)：n表示在滤线栅表面上单位距离(1cm)内，铅条与其间距形成的线对数，常用线／cm表示。

滤线栅使用原则中，X线管管电压须超过

A:55kV B:60kV C:65kV D:70kV E:75kV

X线胶片特性曲线是描绘曝光量与所产生的密度之间关系的一条曲线，由于这条曲线可以表示出感光材料的感光特性，所以称之为"特性曲线"。特性曲线的横坐标为曝光量，以对数值lgE表示；纵坐标为密度，以D表示。特性曲线由足部、直线部、肩部和反转部组成。特性曲线可提供感光材料的本底灰雾（D）、感光度(S)、对比度（γ）、最大密度(D)、宽容度(L)等参数，以表示感光材料的感光性能。

关于胶片特性曲线的说法，错误的是

A:表示密度值与曝光量之间的关系 B:横轴表示曝光量对数值，纵轴表示密度值 C:能够表达出感光材料的感光特性 D:横轴表示密度值，纵轴表示曝光量 E:可称为H-D曲线

X线胶片特性曲线是描绘曝光量与所产生的密度之间关系的一条曲线，由于这条曲线可以表示出感光材料的感光特性，所以称之为"特性曲线"。特性曲线的横坐标为曝光量，以对数值lgE表示；纵坐标为密度，以D表示。特性曲线由足部、直线部、肩部和反转部组成。特性曲线可提供感光材料的本底灰雾（D）、感光度(S)、对比度（γ）、最大密度(D)、宽容度(L)等参数，以表示感光材料的感光性能。

X线胶片本底灰雾是由____组成

A:起始点密度与片基灰雾 B:乳剂灰雾与片基灰雾 C:最大密度与乳剂灰雾 D:片基灰雾 E:最大密度与最小密度

X线胶片特性曲线是描绘曝光量与所产生的密度之间关系的一条曲线，由于这条曲线可以表示出感光材料的感光特性，所以称之为"特性曲线"。特性曲线的横坐标为曝光量，以对数值lgE表示；纵坐标为密度，以D表示。特性曲线由足部、直线部、肩部和反转部组成。特性曲线可提供感光材料的本底灰雾（D）、感光度(S)、对比度（γ）、最大密度(D)、宽容度(L)等参数，以表示感光材料的感光性能。

X线胶片特性曲线的直线部是指

A:密度与照射量的变化不成比例的部分 B:密度与照射量的变化成比例的部分 C:不是摄影中力求应用的部分 D:密度与照射量没有联系的部分 E:也称为肩部

X线胶片特性曲线是描绘曝光量与所产生的密度之间关系的一条曲线，由于这条曲线可以表示出感光材料的感光特性，所以称之为"特性曲线"。特性曲线的横坐标为曝光量，以对数值lgE表示；纵坐标为密度，以D表示。特性曲线由足部、直线部、肩部和反转部组成。特性曲线可提供感光材料的本底灰雾（D）、感光度(S)、对比度（γ）、最大密度(D)、宽容度(L)等参数，以表示感光材料的感光性能。

不属于胶片成像性能的是

A:清晰度 B:分辨率 C:颗粒度 D:乳剂熔点 E:调制传递函数

X线胶片特性曲线是描绘曝光量与所产生的密度之间关系的一条曲线，由于这条曲线可以表示出感光材料的感光特性，所以称之为"特性曲线"。特性曲线的横坐标为曝光量，以对数值lgE表示；纵坐标为密度，以D表示。特性曲线由足部、直线部、肩部和反转部组成。特性曲线可提供感光材料的本底灰雾（D）、感光度(S)、对比度（γ）、最大密度(D)、宽容度(L)等参数，以表示感光材料的感光性能。

X线摄影中应力求利用特性曲线的

A:足部 B:肩部 C:直线部 D:翻转部 E:全部

高速运行的电子将靶物质原子中某层轨道电子击脱，形成空穴。此时，外层（高能级）轨道电子向内层（低能级）空穴跃迁，释放能量，产生X线，称为特征辐射。特征X线的波长由跃迁电子能量差决定，与高速运行电子的能量无关。高速电子的能量可决定能够击脱某壳层的电子。管电压在70kVp以下时，电子产生的动能不能把钨靶原子的K壳层电子击脱，故不能产生K系特征X线。

有关特征X线的解释，错误的是

A:高速电子与靶物质轨道电子作用的结果 B:特征X线的质取决于高速电子的能量 C:特征X线的波长由跃迁的电子能量差决定 D:靶物质原子序数较高特性X线的能量大 E:70kVp以下钨不产生K系特征X线

高速运行的电子将靶物质原子中某层轨道电子击脱，形成空穴。此时，外层（高能级）轨道电子向内层（低能级）空穴跃迁，释放能量，产生X线，称为特征辐射。特征X线的波长由跃迁电子能量差决定，与高速运行电子的能量无关。高速电子的能量可决定能够击脱某壳层的电子。管电压在70kVp以下时，电子产生的动能不能把钨靶原子的K壳层电子击脱，故不能产生K系特征X线。

入射光子能量恰好等于原子轨道的结合能时，光电效应的发生几率发生以下哪种变化

A:突然减少 B:突然增大 C:变为零 D:变为10% E:无变化

高速运行的电子将靶物质原子中某层轨道电子击脱，形成空穴。此时，外层（高能级）轨道电子向内层（低能级）空穴跃迁，释放能量，产生X线，称为特征辐射。特征X线的波长由跃迁电子能量差决定，与高速运行电子的能量无关。高速电子的能量可决定能够击脱某壳层的电子。管电压在70kVp以下时，电子产生的动能不能把钨靶原子的K壳层电子击脱，故不能产生K系特征X线。

与X线产生无关的因素是

A:高速电子的动能 B:靶面物质 C:管电压 D:阴极加热电流 E:有效焦点大小