X线的产生原理是高速电子和靶物质相互作用的结果。在真空条件下高千伏的电场产生的高速电子流与靶物质的原子核和内层轨道电子作用，分别产生了连续X线和特征X线。高速电子和靶物质相互作用过程中，将会发生碰撞损失和辐射损失，最终高速电子的动能变为辐射能、电离能和热能。三种能量的比例随入射电子能量的变化和靶物质性质的差别而不同。影响连续X线产生的因素包括X线管靶面物质、管电压、管电流以及__波形。

以下关于特征X线的叙述，正确的是

A:是电子与原子核作用的结果 B:波长连续分布 C:是外层电子跃迁产生的 D:只有一种线系 E:产物有散射线

X线的产生原理是高速电子和靶物质相互作用的结果。在真空条件下高千伏的电场产生的高速电子流与靶物质的原子核和内层轨道电子作用，分别产生了连续X线和特征X线。高速电子和靶物质相互作用过程中，将会发生碰撞损失和辐射损失，最终高速电子的动能变为辐射能、电离能和热能。三种能量的比例随入射电子能量的变化和靶物质性质的差别而不同。影响连续X线产生的因素包括X线管靶面物质、管电压、管电流以及__波形。

关于连续X线的叙述，错误的是

A:具有各种能量 B:最短波长只与管电压有关 C:也叫轫致辐射 D:是电子与原子核作用的结果 E:是轨道电子跃迁产生的

X线的产生原理是高速电子和靶物质相互作用的结果。在真空条件下高千伏的电场产生的高速电子流与靶物质的原子核和内层轨道电子作用，分别产生了连续X线和特征X线。高速电子和靶物质相互作用过程中，将会发生碰撞损失和辐射损失，最终高速电子的动能变为辐射能、电离能和热能。三种能量的比例随入射电子能量的变化和靶物质性质的差别而不同。影响连续X线产生的因素包括X线管靶面物质、管电压、管电流以及__波形。

以下叙述正确的是

A:连续X线强度与靶物质原子序数成反比 B:连续X线强度与管电流成反比 C:连续X线强度与管电压成反比 D:阳极靶物质的原子序数愈高，产生的X线强度愈小 E:管电流愈大，说明撞击阳极靶面的电子数愈多，X线强度也愈大

X线的产生原理是高速电子和靶物质相互作用的结果。在真空条件下高千伏的电场产生的高速电子流与靶物质的原子核和内层轨道电子作用，分别产生了连续X线和特征X线。高速电子和靶物质相互作用过程中，将会发生碰撞损失和辐射损失，最终高速电子的动能变为辐射能、电离能和热能。三种能量的比例随入射电子能量的变化和靶物质性质的差别而不同。影响连续X线产生的因素包括X线管靶面物质、管电压、管电流以及__波形。

以下叙述错误的是

A:K系特征X线的强度与管电流成正比 B:管电压大于激发电压时才发生 C:医用X线主要使用的是特征X线 D:随管电压的升高K系强度迅速增大 E:特征X线只占很少一部分，并不重要

影响连续X线产生的因素包括X线管靶面物质、管电压、管电流以及__波形。

关于连续X线的影响因素，叙述错误的是

A:强度与靶物质的原子序数成正比 B:不同靶物质的X线谱高能端重合 C:X线谱的最大光子能量只与管电压有关，与靶物质无关 D:不同靶物质的X线谱低能端重合 E:靶物质的原子序数越大，X线强度越小

影响连续X线产生的因素包括X线管靶面物质、管电压、管电流以及__波形。

管电压对连续X线的影响正确的是

A:强度I与管电压(kV)的，n次方成反比 B:管电压升高，最短波长变长 C:管电压升高，最大强度所对应的波长向长波方向移动 D:最大光子能量等于高速电子碰撞靶物质的动能 E:强度与管电压无关

X线管容量是指X线管在安全使用条件下能承受的最大负荷量，是一次负荷的安全性。即在确定曝光时间下所能允许使用的最大曝光条件--管电压和管电流。X线机中设置容量保护电路就是为了防止一次性超负荷曝光。X线管的容量(Pa)与管电压的有效值、管电流的有效值成正比。X线管的容量还与设备__整流方式和曝光时间有关。X线发生时，绝大部分电能转化为热量。

X线机中设置容量保护电路的目的是

A:防止摄影时灯丝未加热而曝光，保护X线管 B:防止X线管过热状态下曝光，保护X线管 C:防止超热容量指标曝光，保护X线管 D:防止一次性超负荷曝光，保护X线管 E:防止一次性超负荷曝光，保护__变压器

高速运行的电子将靶物质原子中某层轨道电子击脱，形成空穴。此时，外层（高能级）轨道电子向内层（低能级）空穴跃迁，释放能量，产生X线，称为特征辐射。特征X线的波长由跃迁电子能量差决定，与高速运行电子的能量无关。高速电子的能量可决定能够击脱某壳层的电子。管电压在70kVp以下时，电子产生的动能不能把钨靶原子的K壳层电子击脱，故不能产生K系特征X线。

有关特征X线的解释，错误的是

A:高速电子与靶物质轨道电子作用的结果 B:特征X线的质取决于高速电子的能量 C:特征X线的波长由跃迁的电子能量差决定 D:靶物质原子序数较高特性X线的能量大 E:70kVp以下钨不产生K系特征X线

高速运行的电子将靶物质原子中某层轨道电子击脱，形成空穴。此时，外层（高能级）轨道电子向内层（低能级）空穴跃迁，释放能量，产生X线，称为特征辐射。特征X线的波长由跃迁电子能量差决定，与高速运行电子的能量无关。高速电子的能量可决定能够击脱某壳层的电子。管电压在70kVp以下时，电子产生的动能不能把钨靶原子的K壳层电子击脱，故不能产生K系特征X线。

与X线产生无关的因素是

A:高速电子的动能 B:靶面物质 C:管电压 D:阴极加热电流 E:有效焦点大小

高速运行的电子将靶物质原子中某层轨道电子击脱，形成空穴。此时，外层（高能级）轨道电子向内层（低能级）空穴跃迁，释放能量，产生X线，称为特征辐射。特征X线的波长由跃迁电子能量差决定，与高速运行电子的能量无关。高速电子的能量可决定能够击脱某壳层的电子。管电压在70kVp以下时，电子产生的动能不能把钨靶原子的K壳层电子击脱，故不能产生K系特征X线。

与X线本质不同的是

A:无线电波 B:微波 C:超声波 D:红外线 E:γ射线