由X线管焦点辐射出的X线穿过被检体时，受到被检体各组织的吸收和散射而衰减，使透过的X线强度的分布呈现差异，到达屏-片系统，转换成可见光强度的分布差异，并传递给胶片，形成银颗粒的空间分布，再经显影处理成为二维光学分布，形成X线照片影像。

决定X线"质"的因素主要是

A:kV B:mAs C:焦点大小 D:X线管方向 E:被检体部位

由X线管焦点辐射出的X线穿过被检体时，受到被检体各组织的吸收和散射而衰减，使透过的X线强度的分布呈现差异，到达屏-片系统，转换成可见光强度的分布差异，并传递给胶片，形成银颗粒的空间分布，再经显影处理成为二维光学分布，形成X线照片影像。

透过的X线强度的分布呈现差异称之为

A:X线对比度 B:物体对比度 C:人工对比度 D:胶片对比度 E:光学对比度

影响连续X线产生的因素包括X线管靶面物质、管电压、管电流以及__波形。

关于连续X线的影响因素，叙述错误的是

A:强度与靶物质的原子序数成正比 B:不同靶物质的X线谱高能端重合 C:X线谱的最大光子能量只与管电压有关，与靶物质无关 D:不同靶物质的X线谱低能端重合 E:靶物质的原子序数越大，X线强度越小

影响连续X线产生的因素包括X线管靶面物质、管电压、管电流以及__波形。

管电压对连续X线的影响正确的是

A:强度I与管电压(kV)的，n次方成反比 B:管电压升高，最短波长变长 C:管电压升高，最大强度所对应的波长向长波方向移动 D:最大光子能量等于高速电子碰撞靶物质的动能 E:强度与管电压无关

高速运行的电子将靶物质原子中某层轨道电子击脱，形成空穴。此时，外层（高能级）轨道电子向内层（低能级）空穴跃迁，释放能量，产生X线，称为特征辐射。特征X线的波长由跃迁电子能量差决定，与高速运行电子的能量无关。高速电子的能量可决定能够击脱某壳层的电子。管电压在70kVp以下时，电子产生的动能不能把钨靶原子的K壳层电子击脱，故不能产生K系特征X线。

有关特征X线的解释，错误的是

A:高速电子与靶物质轨道电子作用的结果 B:特征X线的质取决于高速电子的能量 C:特征X线的波长由跃迁的电子能量差决定 D:靶物质原子序数较高特性X线的能量大 E:70kVp以下钨不产生K系特征X线

高速运行的电子将靶物质原子中某层轨道电子击脱，形成空穴。此时，外层（高能级）轨道电子向内层（低能级）空穴跃迁，释放能量，产生X线。X线的波长由跃迁电子能量差决定，与高速运行电子的能量无关。高速电子的能量可决定能够击脱某壳层的电子。管电压在70kVp以下时，电子产生的动能不能把钨靶原子的K壳层电子击脱。

这种条件下产生的X线的叙述，正确的是

A:具有各种频率 B:能量与电子能量成正比 C:称为特征X线 D:可发生在任何管电压 E:X线的能量等于两能级的和

由X线管焦点辐射出的X线穿过被检体时，受到被检体各组织的吸收和散射而衰减，使透过的X线强度的分布呈现差异，到达屏-片系统，转换成可见光强度的分布差异，并传递给胶片，形成银颗粒的空间分布，再经显影处理成为二维光学分布，形成X线照片影像。

决定X线"质"的因素主要是

A:kV B:mAs C:焦点大小 D:X线管方向 E:被检体部位

由X线管焦点辐射出的X线穿过被检体时，受到被检体各组织的吸收和散射而衰减，使透过的X线强度的分布呈现差异，到达屏-片系统，转换成可见光强度的分布差异，并传递给胶片，形成银颗粒的空间分布，再经显影处理成为二维光学分布，形成X线照片影像。

透过的X线强度的分布呈现差异称之为

A:X线对比度 B:物体对比度 C:人工对比度 D:胶片对比度 E:光学对比度