对某晶体的缺陷测定生成能为84KJ/mol,计算该晶体在1000K和1500K时的缺陷浓度。

题库:材料科学与工程 类型:简答题 时间:2017-06-23 21:08:13 免费下载:《材料科学与工程》Word试卷

对某晶体的缺陷测定生成能为84KJ/mol,计算该晶体在1000K和1500K时的缺陷浓度。

对某晶体的缺陷测定生成能为84KJ/mol,计算该晶体在1000K和1500K时的缺陷浓度。

本题关键词:补体缺陷,V2受体缺陷,补体缺陷症,抗体缺陷症,体液免疫缺陷,补体免疫缺陷,设计缺陷,抗体免疫缺陷病,体液免疫缺陷病,补体系统缺陷病;

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